Скануючий електронний мікроскоп
Скануючий електронний мікроскоп – науковий прилад, який дозволяє отримувати зображення поверхні зразків з великою роздільною здатністю без руйнування досліджуваних зразків. Зображення, отримані в скануючому електронному мікроскопі, мають вигляд об’ємних і зручні для вивчення морфології поверхні. Для проведення досліджень в електронній мікроскопії поверхня зразка повинна бути електропровідною, тому поверхню покривають тонким шаром металу (до 20 нм) у вакуумному напилювачі.
Характеристики електронного скануючого мікроскопа наведені в таблиці.
Характеристика | JEOL JSM-Т220А |
прискорюючи напруга, кеВ | 2-35 |
Кратність збільшення | 15-200000 |
Роздільна здатність, нм | 5 |